为了评估星载相控阵T/R组件的电性能、温度传感器及通道一致性温度补偿功能和抗单粒子效应能力,本文针对星载X波段T/R组件中一款自主研发的CMOS多功能控制芯片,设计开发了一套基于PXI总线的综合测试系统。系统采用高速数字I/O技术,提高了芯片电性能测试速度;同时系统具备高精度自动温度测试功能,能够精确评估芯片温度传感器性能;另外系统集成了单粒子效应测试功能,能够实时监测并记录芯片试验过程中参数变化情况,同时具备数据自动处理功能,能够完成芯片电性能测试数据和设计指标的比对、温度测试数据和标定温度的误差分析以及单粒子效应试验前后数据变化量统计。最后采用本系统对芯片电性能、温度传感器、温度补偿和抗单粒子效应能力进行了实测分析,测试结果表明该芯片功能正常、性能良好,可用于温度剧烈变化和充满空间辐射的航天环境,同时测试系统具备操作简单、可移植性好、测试速度快和测试精度高等优势。