论文部分内容阅读
随着数字系统的日益复杂化，对数字系统和数字器件的测试变得越来越复杂。传统手段通常采用数字信号发生器提供激励并使用逻辑分析仪采集响应数据，很难在激励和响应之间建立复杂逻辑推理关系，所以现代自动测试系统中需要功能更为强大的高速数字测试仪器。BCVX6420高速数字测试模块提供64路双向TTL测试接口，可根据适当的测试矢量对被测系统随机或有序地进行逻辑测试，适用于各类复杂数字系统的故障逻辑测试。 本文工作结合电子科技大学与中电科技集团电子第十四研究所联合研制的“BCVX642