CMOS图像传感器在变形测角仪中的应用研究

来源 :中国科学院研究生院(长春光学精密机械与物理研究所) 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 被引量 : 0次 | 上传用户:MUWANG
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变形测角仪是一种应用光学成像测微原理工作的高精度测试仪器,它可以被用于校正飞行器的机架和导弹发射架,检测火箭发射器的姿态。随着科学技术的不断发展,对测角仪也提出了更高的精度要求,传统的测角仪受到测量原理误差以及人为因素的影响,很难有较大突破,因此,探索一种有较高测量精度的测角仪势在必行。 CMOS图像传感器在单芯片内集成了A/D转换、信号处理、自动增益控制、精密放大和存储等功能,减小了系统复杂性。此外,还具有成品率高、单电源、低工作电压(3~5V)、低工耗、可对局部像元编程随机访问等优点。现在CMOS图像传感器的一些参数性能指标已达到或超过CCD的标准,所以光电转换的任务就由CMOS图像传感器来承担。DSP技术带来了数字信号处理领域的一场革命,随着DSP芯片速度的不断提高,各种高速数字信号处理越来越方便,并为实现系统的实时性提供了有力的支持。 本文研究了用CMOS作为接收器件,用CPLD电路和DSP芯片进行系统流程控制和数据处理的二维变形测角仪的系统原理,设计了数据采集、处理的硬件软件,并进行了实验。采用中值滤波,推广的质心算法等方法,使测量结果的精度比传统测角仪有较大提高。
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