结构光测量技术相比传统接触式测量方法具有高效、简便以及能非接触式地获取被测物体三维信息的优点,但其测量效果在很大程度上依赖于被测物体表面的光学反射特性。对于面结构光测量系统,若被测物体具有表面高反光或镜面反射特性,其可能会造成相机所拍摄图像的部分区域存在过曝现象,从而带来相位误差,造成测量的精度损失。因此,为解决测量高反光物体过程中所造成的问题,本文主要进行如下工作:1、本文较为详尽地介绍了面结构光的测量过程以及相关技术,并对其中一些技术的优缺点以及应用场合进行对比,同时利用编程对测量过程中所用的技术加以实现。2、改进自适应条纹投影算法,减少自适应条纹生成过程中所需投影图案数量与计算量,提高自适应条纹最大投影亮度的准确性,并在此基础上提出基于双目面结构光测量高反光物体的方案。实验验证,该方案能够有效降低高反光物体表面的过曝程度。3、对控制面结构光测量过程的软件需求进行分析,开发出一套较为完善的面结构光测量系统软件,以便于进行测量实验与数据分析。4、设计并进行高反光电机转轴与高反光标准块的测量实验,实验结果表明应用本文所改进的自适应条纹投影算法能够有效地改善高反光表面的测量效果,且对于实验过程中所提出的五层次混合步长与自适应条纹投影相结合的测量方法,其在测量高反光物体表面过程中既能获得良好质量的点云数据,同时在一定程度上改善投影图案数量。本文所提出的基于面结构光的高反光物体测量方案不仅适用于金属电机转轴的测量,同时也可用于测量其他类型的高反光物体,这对于促进面结构光在工程领域的进一步应用具有实际意义。