随着现场可编程门阵列(FPGA)器件的应用越来越广泛,FPGA的测试技术和测试方法也受到了越来越多的重视和研究。FPGA的制造测试需要确保芯片在任何编程逻辑下都能可靠工作,因此需要设计多个测试配置和测试向量来保证测试的覆盖率。为了满足FPGA的制造测试对测试速度和自动化的要求,本文提出了一种改进的基于ATE (Automatic Test Equipment)的FPGA测试系统。ATE可保证对测试速度和自动化的要求,而使用FLASH存储阵列来存储测试配置则解决了ATE自带存储空间有限且扩展成本高的问题,降低了测试成本。系统使用Xilinx USB下载线下载测试配置并通过RS-232C接口控制测试配置在FLASH存储阵列中的存放位置,实现多个配置文件的存储。在测试时,系统通过ATE控制测试配置的读取和配置待测器件。论文首先对系统设计要求进行了分析,给出了系统设计的工作流程和整体实现架构。然后,论文给出了测试板和以XC2S200为逻辑控制平台的配置板的硬件设计。最后,论文给出了控制逻辑的具体设计,并提出了上位机软件环境的搭建方法。测试表明,本系统对Virtex系列FPGA的配置速度达到了95Mbit/s,且配置稳定,保证了测试速度；下载测试配置的速度为160Kbit/s,节省了测试准备时间。与传统的基于ATE的测试系统相比,改进的FPGA测试系统具有更快的测试速度和更低的测试成本。