【摘 要】
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噪声是普遍存在的一种现象,研究人员想尽一切办法去消除或是去减少它.而半导体激光器的噪声,它敏感的反了器件的内在品质与其可靠性.因此,对半导体激光器的噪声的精确提取与
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噪声是普遍存在的一种现象,研究人员想尽一切办法去消除或是去减少它.而半导体激光器的噪声,它敏感的反了器件的内在品质与其可靠性.因此,对半导体激光器的噪声的精确提取与处理,对于研究人员认识半导体激光器的品质与可靠性是一项非常有意义的工作.该课题建立和完善了半导体激光器低频噪声测试系统,该系统采用了基于双通道前置放大器,后接互谱估计器的测量方法,应用基于FFT变换的平均周期图法来进行互谱估计. 在前置放大器的设计中,采用超低噪声精密运算放大器,并充分考虑了低噪声设计的原理,进行电路的低噪声化处理,采用干电池分别供电,并使放大器的两个通道尽可能的对称,从而在进行互谱估计时,由电源和前置放大器引入的噪声可以被排除.结果显示,噪声测量系统的等效噪声电压比前置放大器的噪声电压低近一个数量级.
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