调制和解调技术是无线电广播,以及现代计算机信息传输和通信的重要基础。在物理学上,从20世纪60年代开始,调制方法就被广泛应用于半导体的光谱研究中。通过周期性地施加外场微扰的方法可以得到调制光谱,它能极大地改善吸收光谱和反射光谱的对比度,突出静态谱中很难发现的微结构。调制光谱以其高分辨率和高灵敏度的突出优点,日益受到人们的重视。20世纪末,调制技术也被引入到X射线吸收精细结构谱(XAFS)的实验测量中。已有的结果表明,经过调制的XAFS谱能够探测fm尺度的原子位移变化,比传统非调制的XAFS谱的精度提高了2-3个量级。本论文结合高压实验条件,首次在北京同步辐射装置1W1B XAFS实验站成功发展了基于动态金刚石对顶砧装置(DAC)的高压调制XAFS实验方法。论文的主要内容包含以下三个方面:　　 1、首先建立了基于动态DAC的压力调制系统。其主要原理是通过控制压电陶瓷的周期性伸缩,微量调节DAC装置中两颗平行对中放置的金刚石之间的距离,从而使样品腔中的压力随之周期性地动态变化。整个系统的建立过程包括了动态DAC装置的设计和加工,压电陶瓷及其控制系统的选择,以及系统的组装和调试。　　 2、结合XAFS方法、高压实验条件以及调制技术,在动态DAC调制系统的基础上,发展了全新的高压调制XAFS实验方法。从实验装置、测量方法到数据分析,我们较为完整地建立了这一方法,并初步取得了一些比较好的实验结果.　　 3、利用新的高压调制XAFS方法,对ZnSe的高压性质研究做了初步探讨,由于时间有限,相关工作还在进一步分析中。　　 高压调制XAFS实验方法,融合了调制谱的特点以及XAFS在探测局域结构方面的能力,为高压下相变动力学过程的原位研究开辟了新的途径。而且动态DAC装置的发展为开展高压下的时间分辨研究,以及高压动力学过程的研究,提供了良好的技术基础。