电分选技术广泛应用在废旧物料品质检测与分级领域,该技术的运用可以大大提高物料的品质,增加其附加值,带来很好的社会经济效益。因此对光电分选系统的研究有着重要的现实意义。本文是在借鉴国内外先进分选技术的基础上,设计了一种双从CPU控制的光电分选系统。在通过对分选系统各个机构和对影响物料分选各个因素的分析后,给出适当的解决方案,本文着重对物料分选系统的控制子系统和光电检测子系统进行研究和设计。分选系统的控制子系统,本文采用ARM作为整个系统的控制CPU,DSP作为光电检测信号的计算密集型运算CPU,构成主从协同的双CPU结构,共同完成物料分选系统的各种数据处理和控制功能,提高了系统的数据处理能力和运算速度。光电检测子系统,利用物料的光学特性和光传感器线阵CCD(Colony Collapse Disorder)的高清晰高分辨的成像原理来准确的分选不同的物料。采用线阵CCD对物料进行动态扫描,得到图像数据,以Xilinx公司的FPGA(Field Programmable Gate Array)芯片XSC4OXL作为主控制器和处理器,对数据进行高速并行处理,满足系统设计的实时性要求。仿真结果的分析表明,这种方法大大提高了识别结果的准确性。