嵌入式系统的广泛应用,使人们越来越关注其产品的质量。嵌入式系统继承性差,产品的专用程度较高,良好的软件测试方案是保证嵌入式软件质量的关键。建立正确的高效的测试方案,需要理论模型指导测试过程,这就使得研究一种通用测试模型变的很有必要。　　 本文针对嵌入式软件的特点,在分析传统测试模型的基础上,改进了传统测试过程模型的缺点,提出了一种较通用的测试模型。在改进的过程模型中,试图将测试贯穿于开发的所有阶段,同时对改进了回归测试调度,发掘回归测试的循环幅度,将测试的范围限定在最底层的单元测试,这样可以增加各测试阶段对单元测试的回归。并以需求变更为基础,重点增强各测试阶段间的并行性,传统的测试模型把各个测试阶段严格分开,过程过于理想化,明确的限定了各个测试阶段之间的时间。改进模型中,允许各个测试阶段相邻抑或非相邻的测试阶段之间存在重叠,这将大大提升测试的效率。　　 本文在研究改进模型时,以需求变更为起点着手测试工作,同时在嵌入式软件测试中引入UML、XP等技术,UML用例图可以明确的表达出用户需求及需求变更,XP的“测试优先”的思想,能更高效的解决需求变更带来的困扰,优化测试的过程。最后是针对嵌入式软件测试模型分析与改进,提出了基于TEmb通用元素的改进的V模型,并以此模型为指导,通过具体案例验证其有效性。　　 最后,分析实验的结果,发现在改进模型中依旧存在缺陷,从而提出了下一步研究工作的方向。