衍射效率测试仪是测量光栅衍射效率的基本工具，测试仪的品质直接影响衍射效率的测量精度。本论文结合国家“十一五”科技支撑计划重大项目——高分辨率分光器件的研制与开发，研制了一种新型平面光栅衍射效率自动测试仪。　　 论文主要分为三个部分。首先，介绍衍射光栅的基本特性、主要性能指标和测试方法，以及光谱仪器的相关内容。着重阐述了光栅衍射效率定义，光栅偏振效应，伍德异常现象和初级象差理论。　　 第二部分，详细论述效率测试仪光学系统的设计过程。对照明系统、测量单色仪系统、后置分光计系统分别进行了设计，选择照明光源、定光栅和接收器件等主要元件，并对像元波长标定方法进行了总结和研究。　　 第三部分，结合光栅光谱仪的相关理论，分析仪器的测试原理；运用几何光学的象差理论和ZEMAX光学设计软件，对仪器的光学系统进行象差分析；最后分析了影响系统分辨率的因素。　　 分析表明，设计的新型平面光栅相对衍射效率自动测试仪系统，方案正确、可行；光学系统象差处于容限范围；光谱分辨率小于3nm，满足设计要求。测试仪装置结构紧凑，从测量原理上解决了以往自动测试仪“波长同步精度”不易保证的难题，具有很好的波长重复性，与已有文献中的自动化方案相比制造成本降低，操作简便，工作效率提高。从科研和生产的实际需要来看，是一种经济可行的方案。