共形光学头罩由于其弹头表面的流线型设计，能大幅度减少导弹在飞行过程中的空气阻力，增加导弹的作用距离，使得其在航空航天领域广泛应用。流线型的设计随之带来的是头罩的高陡度特性，这一性质使得一般的检测方法难以对高陡度头罩进行面形检测。伴随着光学测试和光学加工的不断发展，对于高陡度共形光学非球面的高效率、高精度、低成本的检测方法亟待研究。本文针对基于环形子孔径拼接来检测高陡度特性共形头罩面形误差的方法进行深入研究。通过精确划分环形子孔径的有效区域、优化环形子孔径拼接算法，来提高高陡度头罩面形的检测精度。首先，本文研究了子孔径拼接检测方法以及环形子孔径拼接算法的基本原理，包括逐次拼接算法和全局优化拼接算法，优化了算法的拼接精度；其次，分析了被测头罩的具体参数，制定了头罩面形的检测方案，对环形子孔径的划分方式进行了数学公式推导及参数运算，对子孔径划分的参数进行优化，讨论了拼接数据的预处理方法；最后通过模拟实验验证了基于环形子孔径拼接的光学头罩检测方法，分别从干涉仪固有误差、子孔径拼接误差两方面对拼接试验进行了误差分析，对比分析两种拼接算法的拼接精度，检测的面形误差的PV值大约为λ/10，验证了拼接算法的有效性。