模拟电路对于工艺偏移的敏感性以及设计良率是模拟电路设计师关心的重要问题。由于数值仿真工具的局限性,至今设计界仍缺乏能有效提高电路可靠性与良率的通用设计辅助工具。符号化仿真器可以快速导出频域设计指标关于电路参数的解析表示并由此用三维立体图示的方式展示设计指标关于电路参数的依赖敏感度,设计师能够直观的判断如何选择合适的参数组合以满足电路可靠性并降低工艺偏移可能导致的电路性能恶化,从而提高设计良率。本文首先介绍了为了在符号化仿真器的可处理问题规模上尽可能的处理更大规模电路而进行的CMOS小信号模型选取和抽取。接着描述了工艺品偏移低敏感性设计方法的需求和原理。接着在传统多级放大器的设计方法和实例的基础上说明使用符号化仿真器进行工艺偏移低敏感度高良率设计取得的良好效果。实验表明本文提出的方法可以有效地辅助设计师对于电路参数进行准确判断与选择,是一种值得在实际模拟电路设计中使用的辅助方法。