现代集成电路(IC,Integrated Circuits)设计中,芯片的规模和复杂程度正呈指数增加,为了保证所设计芯片功能的正确性,需要投入比以往更多的时间和人力,困难度大幅增加。同时目前功能验证能力已经远远落后于设计能力,功能验证成为大规模芯片设计的瓶颈。覆盖率导向的验证方法是一种新型的验证方法学,它可以极大的提高验证的效率,符合验证方法学的发展规律,并且已经在工业界有许多实际的应用,是实践证明的先进的方法。本文对覆盖率导向的验证方法进行了细致的研究,对覆盖率导向的验证方法的整个验证环境及其各个要素的特点进行了总结。论文从testbench的结构、功能覆盖率模型的建立、验证环境中的激励产生和响应检查等几个方面,分析了覆盖率导向的验证方法与其他验证方法的区别。针对目前验证流程的不足,将断言技术引入验证过程,从协议和关键时序特性的检查机制以及覆盖建模和报告机制两个方面来增强基于覆盖率导向的验证技术,提高设计实现的可观察性和验证过程的可控制性。Cadence公司推出的行业领先的开放式验证方法学(OVM, Open Verification Methodology)提供标准的SystemVerilog类库,利用OVM可以很方便的开发基于覆盖率导向的验证方法的验证环境,同时支持基于SystemVerilog的断言技术(SVA,SystemVerilog Assertion)。本文以导航基带芯片功能验证为背景,分析了导航基带芯片对功能验证提出的挑战,制定了导航基带芯片的验证策略,同时基于覆盖率导向结合断言的验证方法利用OVM对自行设计的专用通信协处理器进行了实际验证。验证结果表明,覆盖率导向结合断言的验证方法可以极大的节省设计缺陷的调试时间,缩短设计功能验证的时间,发现更多的设计验证空洞,增加了设计验证过程的信心。