由于移动互联网的飞速发展,对数据传送速度的要求越来越高。WDM技术和SDH技术等传统通信技术,已经无法满足当前市场环境的需求。OTN技术在这样的需求中,越来越得到重视。OTN技术不仅能与WDM技术一样,提供充足带宽,同时还拥有和SDH相似的组网能力。光层的组网、管理和保护问题也能够得到很好的解决,使网络建设、维护成本大大降低。为了抢占OTN设备的市场先机,如何提高测试效率,增加产能成为设备制造商重点关注的问题。在通信行业快速发展的近十年,设备制造商的生产测试已实现了自动化。若要提高产能,很多时候是通过复制自动化测试平台的方式来实现。但这些自动化光测试仪表非常昂贵,复制一个自动化测试平台是一笔很大的固定资产开销。对于现在高度竞争的通信市场,设备制造商的利润率已经很低,这些大额固定资产的投入必然让设备制造商无法接受。但我们发现传统自动化测试平台在同一时间只能测试一块板卡,仪表在这一块板卡测试期间,在完成它需要测试的项目后,很长一段时间处于闲置状态。若能将这段闲置时间充分利用起来,完成更多板卡的分时并行测试,便可实现不大幅增加固定资产投资、但能提高单位时间测试效率的目标。本文以Alcatel-Lucent的OTN设备光业务交叉机的主要业务板卡OT为例,从硬件和软件两方面入手,设计和实现一个能够并行测试多块板卡的自动化测试平台。硬件部分主要介绍根据OT板卡需要测试的功能选型仪表,设计光路由拓扑完成仪表设备的连接;软件部分重点介绍竞争算法及实现,因为多块板卡需竞争使用同一台仪表,如何实现无冲突的并行测试成为设计的重点。希望本文提出的并行自动化测试的概念以及其设计实现采用的方法能为其他研究者起到一定的借鉴作用。