低功率的多路马达驱动芯片目前主要应用于数码相机中。其具有多通道和多模式驱动能力,在实际应用中只需一颗芯片就可以驱动数码相机中的多个微型马达来分别用于控制相机中的镜头焦距变化、对拍摄对象高速且精准对焦以及控制数码相机快门的开关等。由此可见多路马达驱动芯片可以为数码相机带来更小的体积、更多的功能和更低的功耗。因此在目前的消费类电子中,其受到很多厂商的青睐,有着很大的需求量。然而随着芯片集成度的提高和功能复杂性的提升,也为芯片测试带来了新的挑战。在实际芯片测试中,由于多路马达驱动芯片的管脚数多、功能复杂从而导致测试时间相对较长。由此直接带来的问题就是测试成本的上升。目前在半导体芯片测试中主要由通过并行测试来减少测试时间从而降低测试成本。并行测试指的是自动测试机在同一时间内完成多颗芯片的测试。理论上来讲m颗芯片并行测试就能将测试效率提高m倍,相对一颗芯片而言其测试时间就减少到原来的1/m。本论文主要基于并行测试来研究和开发多路马达驱动芯片测试方案。针对芯片的规范和实际应用的可行性,采用了国产的测试设备,同时选择了4个sites来并行测试。因为当并行测试数量大于4 sites,对测试设备性能和分选机的要求也会大幅度随之提高,增加了测试设备的成本。而且site数量越多,相对整个测试的系统来看稳定性也会相对变差更容易出错。而在测试电路方面,设计了分块式的测试电路板并对每个site采用了独立电源供电。这样的设计可以简化设计难度、降低干扰和减少测试电路板的大小。并且在电路的布线上通过屏蔽线和阻抗匹配电阻改善了数字信号的失真。在程序方面通过函数定义和调用减少了整个测试程序的冗余,降低了测试时间。最后通过GRR验证来确定整个测试系统的稳定和可靠性最终通过以上的工作,在保证产品良率和测试精度的情况下提高测试速度,降低测试成本。