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在光学分子层析成像技术如BLT，DOT，FMT中，待测组织外表面光强分布的测量方式至关重要.与传统的基于光纤的接触式测量方法相比，非接触式的测量方法表现出极大的优势.在本论文中我们通过MonteCarlo模拟实验在单个非均匀模体上对非接触测量理论进行了检验，结果显示当待测物体为单个物体，不存在物体表面间的光线反射时，根据物体表面的光强分布，非接触测量理论能够准确的预测出探测器表面的光强分布.而另一组在两个临近模体上的模拟实验结果显示，当物体表面之间存在显著的光线反射现象时，非接触测量理论预测的探测器光强与模拟得到的探测器光强有较大误差，显示了该理论的局限性.