随着深亚微米技术的发展,嵌入式存储器在片上系统芯片(SoC)上占有越来越多的比重。由于嵌入式存储器中晶体管密集,存在高布线密度、高复杂度和高工作频率等因素,很容易发生物理缺陷。因此,研究高效率的测试算法,建立有效地嵌入式存储器测试方法,对提高芯片成品率,降低芯片生产成本具有十分重要的意义。测试算法是存储器测试的核心内容。算法的推导需要在故障覆盖率和算法复杂度上进行折衷。因此,如何得到低复杂度、高故障覆盖率的算法,是算法研究的难点。同时,存储器内建自测试(MBIST)电路作为附加测试电路,要求具有尽可能小的面积及功耗,而且不能影响存储器电路的正常工作。本文从单一单元故障和耦合故障的13种存储器故障类型的研究出发,针对每种故障原语提出对应的March测试算法,通过这些测试算法的优化合并,推导出65nm工艺要求下的新型March 28算法,新算法可以检测所有现实的连接性故障、单一单元故障、耦合故障和数据保持故障,并且复杂度减少12.5%。对于用户自定义March算法的研究有一定的理论参考价值。之后生成了针对新算法的MBIST电路,在进行了优化升级之后应用于SoC上84个嵌入式存储器的测试,最后对MBIST电路的模块级和芯片级仿真结果表明,在不引入I/O管脚的情况下,可实现对存储器的测试。测试结果表明,本文设计的测试算法和电路满足研究设计要求,对实际应用提供了重要参考。