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自上世纪五十年代以来,随着光栅刻划技术和电子技术,以及计算机技术的发展,计量光栅技术已成为一种专门的技术并得到了迅速发展。目前,光栅测量系统已广泛应用于工业生产和国防等诸多领域。然而随着计量测试技术的发展和实际应用要求的不断提高,更高分辨率和更简便易行的光电角度精密测量装置有了新的市场需求,光栅计量技术也需适应市场要求而需不断发展。本论文避开了纯硬件设计的缺点,提出了一种新的莫尔条纹电子学辨向和细分的方法,利用单片机与可编程逻辑器件CPLD相结合,进行角度的测量,从而实现较高的测量精度,