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目的:对比头颅侧位片(Cephalogram,CEPH)与锥形束CT(cone-beam CT,CBCT)测量磨牙后间隙的可靠性。利用CBCT三维测量方法,对比Ⅰ类与Ⅱ类均角骨面型上颌磨牙后间隙,对骨性Ⅱ了解上颌磨牙后间隙的解剖结构与其可用于磨牙远移的临床实现率之间的关系,分析骨性Ⅱ类上颌前突患者磨牙远移的上颌解剖极限。指导临床正畸医生更好的利用推磨牙向后的方法治疗轻中度骨性Ⅱ类。方法:收集2017年12月至2018年12月就诊于山西医科大学第一医院口腔正畸科需CEPH及CBCT资料,由同一位影像科技术人员使用同一台设备进行CBCT扫描,并拍摄CEPH。分别对CEPH及CBCT左右侧磨牙后间隙的长度与高度进行三次标定测量,应用SPSS23.0统计软件对所测数据进行分析,检验数据的分布特征呈正态分布且方差齐,检验三次测量之间的一致性,比较两种测量方法的可靠性;取三次测量的平均值,将CBCT左右侧磨牙后间隙测量值进行配对t检验,对比同一试验对象左右侧磨牙后间隙的一致性;再将左右侧测量值取平均值与CEPH所得数据进行比较,观察两种测量方法所得磨牙后间隙差异性。对68例共136侧上颌骨后段CBCT资料按照骨性I为对照组和试验组进行测量分析。三维测量时选择两条测量线进行测量,以上颌第一、二磨牙颊尖连线和以正中矢状线作为测量参考线,在上颌第二磨牙远颊根所在平面上,选择上颌第二磨牙的釉-牙骨质界(cemento-enamal junction CEJ)水平、根分叉水平、距离根分叉2、4、6mm水平及远颊根根尖水平处,分别测量从上颌第二磨牙到上颌结节远中骨皮质边缘的距离。比较不同测量参考线上骨性Ⅰ类与骨性Ⅱ上颌磨牙后间隙在上颌第二磨牙的CEJ水平、根分叉水平、距离根分叉2、4、6 mm水平及远颊根根尖水平处的测量值。结果:1.上颌磨牙后间隙测量方法研究(1)左、右侧CBCT及CEPH测量的所有项目三次测量结果组内相关系数(The intraclass correlation coefficient ICC)值均大于0.75,表明两种资料所测得磨牙后间隙值可信度均较高,而CBCT三次测量所得ICC比CEPH更高。(2)同一试验对象的CBCT左右侧上颌磨牙后间隙长度及高度测量值差异没有统计学意义;(3)CBCT左右侧取均值与CEPH测量值配对t检验得上颌磨牙后间隙长度测量值有统计学差异;上颌磨牙后间隙高度测量值没有统计学差异。2.CBCT三维测量骨性Ⅰ类与骨性Ⅱ类上颌磨牙后间隙(1)测量得出本研究中所选研究对象的不同性别间在各水平测量磨牙后间隙对比结果无显著差异(P>0.05),提示磨牙后间隙测量值无性别差异;(2)基于牙尖线的上颌磨牙后间隙在上颌第二磨牙的CEJ水平、根分叉水平、距离根分叉2、4、6 mm水平及远颊根根尖水平处,骨性Ⅱ类组测量值均大于骨性Ⅰ类组(P<0.001);骨性Ⅱ类组和骨性Ⅰ类组磨牙后间隙测量值均在CEJ水平最小;随着测量水平上移,所测得间隙值增长,在根尖处最大。(3)基于矢状线的上颌磨牙后间隙在所有测量水平上,骨性Ⅱ类和骨性Ⅰ类组的磨牙后间隙无显著差异(P>0.05)。结论:1.CBCT与CEPH两种测量方法的可靠性均较高,但CBCT的可重复性高于CEPH,且这两种测量方法存在统计学差异。2.与骨性I远移或扩弓。3.在CEJ水平处,不论骨性I类还是骨性Ⅱ类小。因此在不论骨性I类还是骨性Ⅱ类CEJ水平的解剖极限。