本文在大气压下利用双向窄脉冲介质阻挡放电对氮气携带水蒸气体系中产生的OH自由基和N2+离子的发射光谱进行了诊断研究，研究结果如下： 1.利用发射光谱技术，在大气压下测量了以氮气为载气携带水蒸气体系针-板式双向窄脉冲介质阻挡放电中产生的OH(A2∑→X2П，0-0)，N2+(B2Σu+→X2∑g+，0-0，391.4 nm)发射光谱，研究了OH(A2∑→X2П，0-0)，N2+(B2Σu+→X2Σg+，0-0，391.4 nm)的发射光谱随脉冲峰值电压、脉冲重复频率变化的规律。结果表明：OH(A2∑→X2П，0-0)和N2+(B2∑u+→X2Eg+，0-0，391.4 nm)发射强度随着脉冲峰值电压、脉冲重复频率的增加而增强。并通过计算得出针-板式双向窄脉冲介质阻挡放电中N2(C)的振动温度。由于N2(C3Пu→B3Пg)的△v=+1振动带序与OH(A2∑→X2П，0-0)自由基的发射光谱发生严重重叠。因此，我们利用N2(C3Пu→B3Пg)的△v=-3和△v=-4振动带序的发射光谱强度计算得出N2(C，v)的相对振动布居，在与OH(A2Σ→X2П，0-0)相互重叠的发射光谱中减去N2(C3Пu→B3Пg)的△v=+1振动带序的发射光谱强度，从而求出OH(A2∑→X2П，0-0)自由基的发射光谱强度。 2.利用发射光谱技术在大气压下研究了在氮气为载气携带水蒸气体系中分别添加O2、Ar和He气体对OH(A2∑→X2П，0-0)，N2+(B2∑u→X2Σg+，0-0)发射光谱强度和N2(C)的振动温度的影响。结果表明：OH(A2∑→X2П，0-0)和N2+(B2∑u+→X2Σg+，0-0，391.4 nm)的发射强度随着O2的添加而减弱，随着Ar和He的添加而增强；N2(C)的振动温度随着O2和He的添加而增高，但随着Ar的添加几乎不变。 3.研究了氮气为载气携带水蒸气体系中水蒸气温度对OH(A2∑→X2П，0-0)，N2(B2∑u+→X2Σg+，0-0)发射光谱强度和N2(C)的振动温度的影响。实验结果表明：在放电气体中随着水蒸气温度的升高OH(A2∑→X2П，0-0)光谱强度先增强然后减弱。N2(B2∑u+→X2Σg+，0-0，391.4 nm)发射光谱同样先增强然后稳定保持不变。N2(C)振动温度随着水蒸气温度的增加有一定升高。 4.研究分析了氮气含水蒸汽体系下介质阻挡放电脱除甲醛的实验现象。