一种基于结构和可测性分析的BIST部分扫描算法

来源 :应用科学学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户：tangtongyue

【摘要】

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提出了一种在内建自测试(BIST)中进行部分扫描的算法,此算法综合了电路的结构分析和可测性分析.文中对其原理和实现分别进行了详细的叙述,最后运用此算法对ISCAS89 benchmark

【作者】

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谢永明李锐杨军

【机构】

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东南大学

【出处】

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应用科学学报

【发表日期】

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2005年1期

【关键词】

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BIST 可测性扫描结构内建自测试电路扫描算法故障模拟修改结构因素结构分析 BIST partial scan COP test time

【基金项目】

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国家自然科学基金

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提出了一种在内建自测试(BIST)中进行部分扫描的算法,此算法综合了电路的结构分析和可测性分析.文中对其原理和实现分别进行了详细的叙述,最后运用此算法对ISCAS89 benchmark电路进行计算,修改其结构后进行故障模拟,并将实验结果与全扫描结构和仅考虑结构因素的部分扫描结构进行了比较,最后得出结论.

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