【摘 要】
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为了有效地降低数字集成电路测试成本,提出了一种编码压缩方案和测试排序算法。这种压缩方案就是把每一个测试模式分成固定长度的块,并根据相邻测试模式的对应块是否相容和一
【机 构】
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合肥工业大学计算机与信息学院,阜阳师范学院物理与电子科学学院
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为了有效地降低数字集成电路测试成本,提出了一种编码压缩方案和测试排序算法。这种压缩方案就是把每一个测试模式分成固定长度的块,并根据相邻测试模式的对应块是否相容和一位相异进行编码。同时采用贪婪的排序算法对编码过程中所有测试模式进行动态排序,寻找一种最佳压缩顺序,以便进一步发挥所提方案的压缩效果。文章最后给出了该方案的解压思想和实验结果,证明了该方案能够提高数据压缩率,降低附加硬件开销,优于已知的其他测试数据压缩方案。
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