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结合等离子体显示器件(PDP)的放电机理,论述了PDP中MgO保护膜的二次电子发射过程:势能型发射和动能型发射.讨论了两种二次电子发射系数γ的测量方法和装置,在此基础上,建立了一套简单可行的适用于PDP样品的实验装置,文中给出γ值的测量结果.通过γ值的测试,可以反馈MgO保护膜的性能,为提高PDP性能提供依据.