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为了使ＧａＡｓ微波功率下ＦＥＴ更可靠地应用于重要微波系统，选取高可靠件生产线生产的ＣＳ０５３１型器件进行加速寿命试验，并研制了专用试验设备。观察到器件ｎ因子随着试验时间有增大的趋势，初始低频噪声值与器件突然烧毁有一定的相关性，这一结果表明低频噪声有可能成为未来评价ＧａＡｓ器件可靠性的一种方法，该器件失效机构激活能２．４５ｅＶ沟道温度１１０℃时，１０年平均失效率４Ｆｉｔ，平均寿命７．５１３７×１０＾