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X射线荧光录井分析技术能够测定岩样中Si、Al、Fe、Ca、K、Mg、Ti、P、Mn、S、Ti、V等12种元素，在潜山界面卡取、潜山淋滤带的判别、标准（标志）层的卡取、地层对比等方面有很好的发展前景，利用X射线荧光分析技术，通过分析元素含量变化判别岩石类型，对地层层位进行准确划分在生产中得到比较好的应用效果。