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在同步辐射装置3W1B光束线上测量了软X射线能区50～200eV金属W薄膜的反射率，并采用最小二乘拟合得到其光学常量．实验采用三种样品：Si衬底单层W超薄膜，Si衬底W／C双层膜，SiO2衬底W薄膜．分别获得金属W光学常量，三种样品的结果分别代表W薄膜光学常量，WC薄膜结合中W薄膜的光学常量及体材料W的光学常量．结果表明，前两者结果与以往发表数据一致性较好，第三种样品的结果则更接近已发表的体材料的结果．通过实验结果和已发表数据的比较，发现随着薄膜厚度的降低，光学常量实部（色散因子）变化不明显，而虚部（吸收