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随着系统芯片的兴起和信号速率的提高，混合信号ＤＦＴ正在冲出数字ＤＦＴ的阴影而进入电子测试的显著突出地位。
混合信号可测设计
【摘 要】
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随着系统芯片的兴起和信号速率的提高，混合信号ＤＦＴ正在冲出数字ＤＦＴ的阴影而进入电子测试的显著突出地位。
【出 处】
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国外电子测量技术
【发表日期】
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2000年5期
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