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钨矿在工业生产中起着重要作用，所以钨矿中主次元素的检测对于钨产业的发展至关重要。本文采用熔融玻璃片法，使用X射线荧光光谱法测定钨矿石中的钨、磷等主次元素。所用的样本符合国家标准（1级），用α系数内标法和康普顿散射作内标校正基体效应所用校准。检测结果显示：主、次量组分方法的精密度（RSD，n=10），即0.37~6.80%。因此， X射线荧光光谱法测定钨矿石中主次元素的准确、快捷和方便的方法，可以有效地减少对环境的污染。