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在扫描测试设计时，因电路行为的不同需采用不同的扫描单元，LSSD（Ievel-sensitive scan design）正是一种非常适合于电平敏感型电路的扫描单元，但在时钟控制相对复杂的电路中仅采用标准LSSD单元来完成整个扫描测试设计是不够的。在经过对LSSD扫描测试原理进行深入研究后，结合某32位RISC CPU中的Cache电路的行为特点，对标准LSSD扫描单元做了重新设计，并获得了较高的测试覆盖率和故障覆盖率。