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提出了基于小生境遗传算法的系统级芯片（SoC）测试存取机制（TAM）的优化方法．结合TAM宽度约束进行SoC中功能内核（IP）的测试壳的优化，解决测试存取机制的测试总线划分及测试总线细分等的优化问题，取得了较好的结果，并有效地减少SoC的测试时间．采用分支-联合（Fork—Joint）的方法可得到更为优化的TAM方法，对于ITC2002基准SoCd695，比未采用分支-联合方法的TAM划分方法的测试性能最大可以提高30％，和其它方法的优化结果相比，该方法的平均效果优干其它方法1到9个百分点．