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针对Hadamard光学成像的编码定位精度波动对编码成像结果的影响，研究了编码机制对定位偏差响应的表现，发现了阿达玛变换光学系统对定位精度波动的敏感性规律：像元强度改变量与定位偏差量成比例；一个编码周期内定位偏差的多次波动导致像元强度改变量按次累加；各次波动对像场强度改变量分布具有循环性．采用63阶码板实验以及数值模拟方法计算63阶、255阶和511阶S矩阵编码成像，结果表明定位精度的变化对编码成像质量有重要影响．给出了在编码成像中所应用的编码矩阵折叠形式与定位精度的相关关系，为编码成像系统的精度设计给出