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IP核的集成问题是SOC设计的关键，测试集成更是无法回避的难题。因此，灵活高效的测试控制结构成为SOC可测性设计的重要研究内容。文章分析了IEEE Std 1149．1对传统IC芯片内部和外部测试的整体控制能力；剖析了IEEE Std 1500^TM对嵌入式IP核测试所做规定的标准性和可配置性。在此基础上，提出了一种复用芯片级测试控制器的测试控制结构，该结构能兼容不同类型的IP核，并且有助于实现复杂SOC的层次性测试控制。