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针对规模大而复杂的VLSI(Very Large Scale Integrated-Circuit)提出了一种新的基于BIST(Built-In Self-Test)的故障诊断策略，它通过对触发器阵列扫描，可同时找出有故障的CUT(Circuit Under Test)和测试码以及与之相应的响应，从而能应用传统的非BIST设计故障诊断方法来定位故障门。它克服了传统基于BIST故障诊断方法中数据量大，或者由于使用经过压缩处理的数据而带来的不确定性等缺点。电路结构简单可行，提供的相应算法也易于实现。