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引言验证最基本的目的在于测试被测对象DUT的正确性,其最常用的方法就是给DUT施加各种不同的激励,并观测DUT的输出结果,把此结果与期望值相比较,判断DUT正确与否。近年来,随着集成电路设计向超大规模发展,芯片验证工作变得越来越复杂和困难,根据许多业内文献报道,验证的工作量已经占到整个芯片开发的70%左右,因此提高芯片验证的效率已变得至关重要。