论文部分内容阅读
FPGA器件的高密度化，高集成度，使得电路板越来越复杂，从外部对电路板的结构和功能执行测试变得更加网难，因此需要通过对FPGA实现嵌入式测试以便有效降低测试的难度；文中首先对FPGA的嵌入式测试的特点进行了概述，然后针对以FPGA为核心的常见电路进行了嵌入式测试方法研究，并介绍了其核心技术边界扫描测试原理，探讨了具体的实现方案，最后根据其特点简要分析了其应用前景。