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针对微流控芯片中压力相关测量的问题,提出了一种利用微尺度层流分布测量微流控芯片中的压力（流速）的方法。主要研究内容包括微汇合层流结构的设计（Y型结构）,微尺度层流分布的压力（流速）关系的推导和利用显微图像处理进行测量的方法等,并通过计算机仿真和实际芯片实验对Y型测压结构进行了分析,结果证实了提出方法的有效性。