【摘 要】
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针对光电器件实现产业化面临的可靠性问题,将亮度作为性能退化指标,开展了多组恒定应力下的加速退化试验。基于测试器件的亮度衰减数据,采用三参数威布尔函数和右逼近法并结
【机 构】
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上海电力大学能源与机械工程学院,上海理工大学机械工程学院
【基金项目】
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国家自然科学基金(11572187),上海市科学技术委员会项目(18DZ1202105,18DZ1202302)
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针对光电器件实现产业化面临的可靠性问题,将亮度作为性能退化指标,开展了多组恒定应力下的加速退化试验。基于测试器件的亮度衰减数据,采用三参数威布尔函数和右逼近法并结合寿命与应力之间的内在联系构建了一种加速性能退化的寿命快速评估模型。以电子显示器件VFD为试验对象,计算了正常应力水平下的平均寿命,实现了模型的应用及精度评价。结果表明,设计的四组加速退化试验方案合理,寿命快速评估模型无需借助周期长的常规寿命试验便能快速地获得产品正常应力下的亮度变化轨迹及寿命信息,这对光电器件可靠性评估及产品质量管理有一定的指导
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