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在SOC测试中，如何对Wrapper和TAM进行组合优化是减少系统芯片（SOC）的测试时间的重点。本文运用BFD（BestFitDecrea-sing）算法来优化Wrapper。并重点论述了基于DNA计算和遗传算法的DNA-GA算法在在SOC测试结构优化中的应用。DNA—GA算法采用DNA双螺旋结构和碱基互补配对原则进行编码．并引入基因级的遗传操作来得到问题的解。针对国际标准系统芯片（SOC）验证表明．与其他算法相比。该算法能够较好地减少SOC的测试时间。