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采用在染色体标本上同是显示ＳＣＥ及Ｇ带带型的方法，对鼻咽癌患者染色体断裂热点与ＳＣＥ高发位点，染色体脆性部位及原癌基因位点之间的相关性进行了分析。结果表明：患者的ＳＣＥ频率，染色体畸变率均显著的高对照组，患者的染色断裂点和ＳＣＥ位点都主要分布在染色体的Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ组浅带上，且两者所累及的染色体号存在着明显的相关，患者的１５个断裂热点与ＳＣＥ高发位点的一致率为５３．３３％，与脆性部位的一致率为８０