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提出了一种基于光学相干层析成像的表面形貌测量方法，利用白光频谱域光学相干层，析系统对普通平面镜样品进行成像，对不同光程差对应的干涉光谱进行了测量，并分析了不同光程差对应的散射势峰值的位置，最终得到了平面镜样品的二维层析图像。实验结果可知，该系统可完成对物体表面形貌的测量，具有成像速度高、信噪比高和分辨率高的优点，可满足实际工业测量需要。