【摘 要】
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本文提出了一种在摄谱法发射光谱分析谱线受干扰时进行校正的简便方法。无需制作乳剂特性曲线,通过控制线与分析线的黑度换算强度值,再由控制线强度计算干扰线的强度,然后从
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本文提出了一种在摄谱法发射光谱分析谱线受干扰时进行校正的简便方法。无需制作乳剂特性曲线,通过控制线与分析线的黑度换算强度值,再由控制线强度计算干扰线的强度,然后从分析线中扣除干扰线强度的复杂校正过程。
In this paper, a simple and convenient method to correct the spectral line of the emission spectrum of the spectrograph when it is disturbed is proposed. It is unnecessary to make the emulsion characteristic curve, calculate the intensity value by the blackness of the control line and the analysis line, calculate the intensity of the interference line by the control line intensity, and then deduct the complicated correction process of the interference line intensity from the analysis line.
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