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X射线荧光光谱分析技术的制样方法主要有2种：压片法和熔片法.压片法操作简单、速度快、成本低,但制成的样片存在较严重的基体效应,影响了测量结果的准确性。本文试验了压片法的各种条件,以减小生料样品的颗粒效应,同时应用理论α影响系数校正样品中元素间的吸收增强效应,并通过烧失量来监控基体的变化,获得了较好的效果.