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（美国俄亥俄州克里夫兰，200B年7月29日讯）美国吉时利（Keithley）仪器公司（NYSE代码：KEI），日前针对4200～SCS半导体特征分析系统推出了KTEI（吉时利交互式测试环境）V7．1版。经过此次软件升级之后，KTEi支持更高功率半导体器件的测试。这样。4200—SCS就支持从低到高各种功率水平的器件的特征分析，大大降低了一些复杂测量的难度，并且通过保护用户的固定资产投资降低了用户的测试成本。KTEI V7．1的此次升级融合了多种新特征和新功能．扩宽了4200-CVU（电容-电压单元）的功