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在片上系统芯片（System-on-Chip，SoC）测试优化技术的研究中，测试时间和测试功耗是相互影响相互制约的两个因素．在基于测试访问机制（TestAccessMechanism，TAM）分组策略的基础上，以测试时间和测试功耗为目标建立了联合优化模型，运用多目标遗传算法对模型进行求解．以ITC’02标准电路中的p93791电路为实例进行验证，表明此方法能够在测试时间和测试功耗的优化上获得较理想的解，且能提高TAM通道的利用率．