掺硅InGaN和掺硅GaN的光学性质的研究

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采用光致发光方法研究了采用金属有机化学气相沉积(MOCVD)在蓝宝石衬底上生长的掺硅InGaN和掺硅CaN材料的光学性质。在室温下.InGaN材料带边峰位置为437.0nm,半高宽为14.3nm;GaN材料带边峰位置为363.4nm.半高宽为9.5nm。进行变温测量发现.随温度的升高.两种材料的发光强度降低,半高宽增大;GaN材料的带边峰值能量位置出现红移现象.与Varshini公式符合较好;InGaN材料的带边峰值能量位置则出现红移-蓝移-红移现象.这与InGaN材料的局域态、热效应以及由于电子-空穴对
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