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期刊论文
关于层间介质起泡问题的工艺研究
关于层间介质起泡问题的工艺研究
来源 :集成电路通讯 | 被引量 : 0次 | 上传用户:frenta
【摘 要】
:
针对PaAg导体与Au导体之间隔离介质的起泡问题,分析了原因,提出了解决方法。着重研究了DuPont4596型Au导体和DuPont4119型Au导体的各项特性,指出这两种Au导体可以替代DuPont6177
【作 者】
:
王守政
周业权
【机 构】
:
中国兵器工业第214研究所
【出 处】
:
集成电路通讯
【发表日期】
:
2003年3期
【关键词】
:
PaAg导体
Au导体
隔离介质
介质起泡
混合组装
电池效应
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针对PaAg导体与Au导体之间隔离介质的起泡问题,分析了原因,提出了解决方法。着重研究了DuPont4596型Au导体和DuPont4119型Au导体的各项特性,指出这两种Au导体可以替代DuPont6177型PaAg导体,从而解决了介质起泡工艺难题。
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