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在室温条件下，研究了辐照偏置、总剂量和剂量率对ＰＭＯＳ主剂量计辐剂量记录－阈电压的稳定性影响，观察了辐射后阈电压在不同机偏条件下的变化趋势和幅度，分析认为慢界面陷阱中电荷的“充放电”是造成不稳定的首要原因，结果表明，该种由慢界面态造成的阈电压变化在每次开机测量下具有重复性，讨论了在ＰＭＯＳ剂量计中提高稳定性的办法。