多CCD拼接相机中图像传感器不均匀性校正

来源 :半导体光电 | 被引量 : 0次 | 上传用户：cczxokli

【摘要】

：

CCD图像传感器不均匀特性是影响光电测量设备精度的一个重要因素.在分析了单片CCD图像传感器不均匀特性基础上,提出了多CCD拼接相机系统中不均匀特性的校正方法.大量实验结果

【作者】

：

王军杨会玲刘亚侠何昕郝志航

【机构】

：

中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,长春理工大学

【出处】

：

半导体光电

【发表日期】

：

2005年3期

【关键词】

：

不均匀性校正 CCD拼接 nonuniformity correction CCD butting

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CCD图像传感器不均匀特性是影响光电测量设备精度的一个重要因素.在分析了单片CCD图像传感器不均匀特性基础上,提出了多CCD拼接相机系统中不均匀特性的校正方法.大量实验结果表明,利用该校正方法不仅保持原图像的目标,而且简单快速,具有通用性,能够显著提高系统测量精度.该方法可行且对其他光电测量设备有参考意义.

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