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串扰的出现可能会导致电路出现逻辑错误和时延故障 因此 ,超深亚微米工艺下 ,在设计验证、测试阶段需要对串扰问题给予认真对待 由于电路中较长的通路具有较短的松弛时间 ,因此容易因为串扰问题产生时延故障 针对这类故障给出了一个考虑较长通路上串扰现象的时延故障测试产生算法 ,该算法采用了波形敏化技术 实验结果表明 ,采用文中的技术可以对一定规模的电路的串扰时延故障进行测试产生