偏最小二乘法-可见/近红外光谱测定南丰蜜桔糖度的研究

来源 :河北师范大学学报:自然科学版 | 被引量 : 0次 | 上传用户:yang20090907
下载到本地 , 更方便阅读
声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架
论文部分内容阅读
研究了南丰蜜桔糖度的快速测定方法,选择漫反射原始光谱采用偏最小二乘法(PLS)建立了南丰蜜桔糖度的校正模型,并对模型的预测性能进行了验证.在糖度预测模型中,预测集的相关系数为0.913 3,预测均方根误差为0.557 7,平均预测偏差为-0.065 6.结果表明:可见/近红外漫反射光谱结合PLS方法对南丰蜜桔糖度的快速测定是有效的.
其他文献
分析了Oracle数据库常见的故障和数据库的恢复原理,探讨了被损坏数据文件的恢复策略,给出了完全恢复和不完全恢复2种方案的方法步骤.
当外加磁场时,超导体/半导体/超导体结的临界电流受外加磁场的影响.超导结的临界电流与磁场的曲线非常类似于单色光在单狭缝衍射的夫琅和费图样.在未考虑外加磁场的超导体/半导体/超
设X为任意Banach空间,X^*为其共轭空间,A:D(A)X→X^*为可闭的K-正定算子,D(A)=D(K),则存在常数α〉0使得x∈D(A),有‖Ax‖≤α‖Kx‖,而且A为闭算子,R(A)=X^*,f∈X^*,方程Ax=f有唯一解.
将故障树分析原理应用于相机主控板的故障诊断研究中,建立了相机主控板的故障树,对相机主控板进行了故障诊断分析,并对主控板的检测流程进行了设计,最终完成了相机主控板检测